中茂 Chroma 光學元件測試解決方案
2015-08-12
中茂 Chroma 光學元件測試解決方案含有多通道且高精準度的激光二極管燒機測試系統，其中獨立的SMU電流-電壓源與溫度控制可以符合發光二極管、鐳射二極管、光電偵測器與其它半導體使用。中茂 Chroma 光學元件測試解決方案還含有激光半導體特性測試機、封裝外觀檢測系統以及晶圓檢測系統，以下是長沙艾克賽普儀器設備有限公司為您介紹中茂 Chroma PXI 量測解決方案的系列產品,如果您有任何問題或者需要相關資料，請隨時聯系：0731-84284278轉801，郵箱：shawn.xiao@hncsw.net。
邊射型激光半導體
- Model 58601 燒機測試系統
- Laser Diode Burn-In Test System
- 適用于光電激光半導體 CoC/CoS/Edge Emission 等種類雷射燒機測試
- Model 58620 激光半導體特性測試機
- Laser Diode Characterization System
自動光學檢測系統
- Model 7925 TO-CAN 封裝外觀檢測系
- Automatic inspection system for TO-CAN package.
- It can inspect lens scratch, crack, particle and metal cap defect of TO-CAN package
- Auto focus function can overcome height variation from tray or package
- Defect criteria editor for versatile pass/fail criteria setting
- Model 7935 晶圓檢測系統
- 應用于8吋以下晶粒外觀檢查。
- 最大可檢測8”晶圓 (檢測區域達10“范圍 )
- 適合LED, 雷射二極體及影像感測器等產業
- 影像辨識成功率高達98%
- 可結合上游測試機晶粒資料，合并后上傳至下一道制程設備
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