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儀器中文名稱：近場掃描光學顯微鏡 儀器所在城市:北京市 所在單位:中國科學院物理研究所 儀器型號規格:NS-M100 生產廠商: 國別: 購買日期： 使用日期(年):2000-09-05 認證情況： 主要技術指標: 主要附件及功能: 科研用 儀器負責人: 肖先生 E-mail: shawn.xiao@hncswn
2012-01-05
儀器中文名稱：極低溫雙探針掃描隧道顯微鏡 儀器所在城市:北京市 所在單位:中國科學院物理研究所 儀器型號規格:自制 生產廠商: 國別: 購買日期： 使用日期(年):2003-06-03 認證情況： 主要技術指標: 主要附件及功能: 科研用 儀器負責人: 肖先生 E-mail: shawn.xiao@h
儀器中文名稱：超高分辨率掃描電鏡 儀器所在城市:北京市 所在單位:中國科學院物理研究所 儀器型號規格:S-5200日立 生產廠商:日本日立公司 國別:日本 購買日期： 使用日期(年):2003-07-28 認證情況： 主要技術指標: 主要附件及功能: 科研用 儀器負責人: 肖先生 E-mail
儀器中文名稱：場發射掃描電鏡 儀器所在城市:北京市 所在單位:中國科學院物理研究所 儀器型號規格:XL-30 S-FEG 生產廠商:荷蘭 國別:荷蘭 購買日期： 使用日期(年):2004-01-07 認證情況： 主要技術指標: 主要附件及功能: 儀器負責人: 肖先生 E-mail: shawn.xiao@hncsw
儀器中文名稱：場發射高分辨電子顯微鏡 儀器所在城市:北京市 所在單位:清華大學 儀器型號規格:JZM-2010F 生產廠商: 國別: 購買日期： 使用日期(年):2005-08-06 認證情況： 主要技術指標: 主要附件及功能: 科研用 儀器負責人: 肖先生 E-mail: shawn.xiao@hncswnet 檢
儀器中文名稱：場發射掃描電子顯微鏡 儀器所在城市:北京市 所在單位:中國科學院物理研究所 儀器型號規格:Quanta 200 FEG 生產廠商:日本日立公司 國別:日本 購買日期： 使用日期(年):1994-05-01 認證情況： 主要技術指標: 主要附件及功能: 儀器負責人: 肖先生 E-mail:
儀器中文名稱：環境掃描電子顯微鏡 儀器所在城市:北京市 所在單位:中國科學院微生物研究所 儀器型號規格:Quanta 200 生產廠商: 國別： 購買日期： 使用日期(年):2003-04-16 認證情況： 主要技術指標: 主要附件及功能: 科研用 儀器負責人: 肖先生 E-mail: shawn.xiao@
儀器中文名稱：掃描電子顯微鏡 儀器所在城市:北京市 所在單位:中國科學院力學研究所 儀器型號規格:SIRION 400NC 生產廠商:荷蘭 國別:荷蘭 購買日期： 使用日期(年):2004-04-08 認證情況： 主要技術指標: 主要附件及功能: 科研用 儀器負責人: 肖先生 E-mail: shawn.xi
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