馬爾文Malvern Zetasizer納米 Z ZETA電位分析儀
名稱：物性分析測試儀器
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型號：
簡介：馬爾文Malvern Zetasizer納米 Z ZETA電位分析儀利用激光多普勒電泳技術，專注于水性及非水性分散劑中ZETA電位及電泳遷移率的測量。 馬爾文Malvern Zetasizer納米 Z ZETA電位分析儀在無需粒度或分子量測...
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馬爾文Malvern Zetasizer納米 Z ZETA電位分析儀利用激光多普勒電泳技術，專注于水性及非水性分散劑中ZETA電位及電泳遷移率的測量。
馬爾文Malvern Zetasizer納米 Z ZETA電位分析儀在無需粒度或分子量測量的情況下，Zetasizer Nano Z是測量膠體及納米顆粒ZETA電位及電泳遷移率的理想系統。
Zeta電位，采用專利型M3-PALS 技術。
"質量因子"及"專家診斷系統"尤如專家伴隨您的左右，使您成竹在胸。
21CFR軟件選項可實現ER/ES合規性。
科研級軟件選項，為光散射專家提供了高級運算法則的。
使用自動滴定儀選件進行自動測量。
馬爾文Malvern Zetasizer納米 Z ZETA電位分析儀可選激光器，50mW，532nm，用于不適合標準型633nm激光器的樣品。
光學濾波片，改善熒光樣品的測量。
溫度范圍最高可達120ºC。
Zetasizer Nano Z 采用微電泳/電泳光散射技術測量ZETA電位及電泳淌度，激光多普勒微量電泳法可用于測量ZETA電位。 分子和顆粒在施加的電場作用下做電泳運動，其運動速度和Zeta電位直接相關 使用專利型激光相干技術 M3-PALS （相位分析光散射法）檢測其速率。 從而實現電泳遷移率的計算，并得出ZETA電位及ZETA電位的分布。
該軟件的設計旨是不影響使用簡便性的情況下實現功能特點的豐富多樣。 標準操作程序（SOP） 可簡化常規測量，質量因子可對數據質量進行確認，專家診斷系統則可為數據說明提供協助。
選項MPT-2自動滴定儀可對pH值、電導率或任何添加劑中的變化影響進行自動化研究。
一系列可拋棄性以及可重復使用的樣品池，可對優化不同樣品體積、濃度以及流量方面的需求,其它選件包括可改善熒光樣品測量的濾波器，溫度范圍高達120ºC，以及一個粘度計，用于確定樣品粘度達到技術要求的精確性。
馬爾文Malvern Zetasizer納米 Z ZETA電位分析儀技術指標：
ZETA 電位：
測量范圍：:3.8nm - 100 微米*（直徑）。測量原理：:電泳光散射法最小樣品容積：:150µL （20µL ，采用擴散障礙法）精確度:0.12µm.cm/V.s，針對水性系統，采用NIST SRM1980標準參考物質。靈敏度:10mg/mL （BSA）溫度控制范圍:0°C - 90°C +/-0.1**, 120°C 選裝。.光源:He-Ne 激光器 633nm，最大 4mW。激光安全：:1類電源功率:100VA
重量與尺寸：
尺寸 （寬, 長, 高）：:320mm, 600mm, 260mm（W,D,H）重量:21 kg
運行環境：
Operating temperature (°C):10°C – 35°C濕度：:35% - 80%無冷凝
備注：
*:最大范圍，以樣品為準。**:25°C條件下。專利:Determination in a Dip Cell WO2012172330
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