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布魯克Bruker   Dimension IconIR  納米尺度紅外光譜

布魯克Bruker Dimension IconIR 納米尺度紅外光譜

名稱:光譜儀

品牌:

型號:

簡介:布魯克大樣品臺Dimension IconIR系統(tǒng)將納米紅外光譜技術(shù)(AFM-IR)和掃描探針技術(shù)(SPM)集成到一個平臺,為學術(shù)界和工業(yè)界用戶提供先進的納米光譜、化學成像和物理性質(zhì)成像工具。IconIR結(jié)合了數(shù)十年的研究和技術(shù)創(chuàng)新,基于D...

  • 產(chǎn)品介紹

布魯克大樣品臺Dimension IconIR系統(tǒng)將納米紅外光譜技術(shù)(AFM-IR)和掃描探針技術(shù)(SPM)集成到一個平臺,為學術(shù)界和工業(yè)界用戶提供先進的納米光譜、化學成像和物理性質(zhì)成像工具。IconIR結(jié)合了數(shù)十年的研究和技術(shù)創(chuàng)新,基于Dimension Icon ?原子力顯微鏡的最新平臺,實現(xiàn)卓越的納米級屬性成像能力。該系統(tǒng)支持相關(guān)的顯微鏡和化學成像,具有超高空間分辨率和單層靈敏度,同時其獨特的大樣品臺結(jié)構(gòu),提供極大的樣本靈活性,大大擴展應用領域。


卓越的納米紅外功能和性能

在單個系統(tǒng)中,IconIR提供高性能納米級紅外光譜、化學成像分辨率和單分子層靈敏度。

Dimension IconIR提供:

·       與FTIR高度一致的高性能納米紅外光譜,優(yōu)于10nm化學成像分辨率和單分子層靈敏度

·        化學成像可與PeakForce Tapping?納米機械和納米電學關(guān)聯(lián)

·        高性能AFM成像和極大的樣品靈活性,可容納大尺寸樣品*

·        廣泛適用的應用組件和AFM功能模塊

*標準系統(tǒng)支持150mm大樣品,也可提供能夠容納更大樣品的版本


完整的關(guān)聯(lián)研究顯微鏡

集成Bruker特有的PeakForce輕敲納米物性成像和納米紅外光譜技術(shù),Dimension IconIR系統(tǒng)的大樣本平臺特別適合于電學或化學反應環(huán)境中材料和活性納米系統(tǒng),甚至是具有強機械異質(zhì)性的復雜系統(tǒng)的關(guān)聯(lián)研究。

IconIR提供:

先進的定量屬性成像技術(shù)

用于定量納米化學,納米機械和納米電學表征的完整關(guān)聯(lián)研究方案

Nanoscale property map of nanochemical AFM-IR image of carbin fibers embedded in epoxy resin.

包埋在環(huán)氧樹脂中的碳纖維的納米化學成像(AFM-IR)

Nanoscale property map of nanothermal SThM image of carbin fibers embedded in epoxy resin.

包埋在環(huán)氧樹脂中的碳纖維的納米熱物性成像(SThM)

Nanoscale property map of nanoelectrical PF-KPFM image of carbin fibers embedded in epoxy resin.

包埋在環(huán)氧樹脂中的碳纖維的納米電學成像(PF-KPFM)

高性能納米紅外光譜

Resonance-Enhanced AFM-IR monolayer sensitivity

PS-LDPE共混物不同區(qū)域的高質(zhì)量共振增強納米紅外光譜,展示了高度的材料敏感性和對納米尺度材料特性的深入解析

布魯克是基于光熱AFM-IR納米紅外光譜技術(shù)的發(fā)明者,并擁有多項專利和獨特的納米紅外模式。這些模式使IconIR能夠提供與FT-IR光譜一致的高速、高性能光譜。模式的多樣性為工業(yè)和學術(shù)用戶的廣泛樣本提供測試支持。

IconIR提供:

與FT-IR一致的高性能,豐富,詳細的光譜,實現(xiàn)單分子光譜

共振增強AFM-IR,納米紅外領域的首選技術(shù),已發(fā)表大量科學出版物

高性能輕敲模式AFM-IR光譜

超高分辨率化學成像

Icon業(yè)界領先的AFM性能和Bruker專利的輕敲AFM-IR成像共同提高了納米紅外技術(shù)的空間分辨率和樣品適用性,并將其應用擴展到光熱AFM-IR技術(shù)目前尚未解決的領域。

IconIR提供:

·        優(yōu)于10nm的空間分辨率,用于廣泛的材料類型(包括軟質(zhì)材料)的化學成像

·        分子層靈敏度用于薄膜及生物結(jié)構(gòu)成像

·        一致,可靠,高質(zhì)量的可發(fā)表數(shù)據(jù)

·        聚合物薄膜的可靠表面敏感化學測量

Chemical characterization of PS-co-PMMA block co-polymer

超高分辨率PS-b-PMMA嵌段共聚物的輕敲AFM-IR成像 樣品形貌(a);1730cm-1的紅外成像(b)和1492cm-1的紅外成像(c)分辨突出顯示PMMA和PS的分布。(b)圖中的黃色箭頭所示結(jié)構(gòu)展示了優(yōu)于10nm的化學分辨率。紅外成像疊加圖(d)顯示組分的分布。

淺表面化學信息檢測

Annotated 3D AFM-IR chemical map with corresponding AFM-IR spectra graphs for surface sensitive mode and tapping mode characterization

表面靈敏模式采集表面涂層的光譜信息(綠色曲線),共振增強模式采集體積范圍的信息,包括表面涂層和下層體材料(褐色曲線)


采用布魯克最新專利表面靈敏模式,IconIR將探測深度從500納米降低到數(shù)十納米,無需制備截面,無縫結(jié)合高空間分辨率和高表面靈敏度。



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