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艾克賽普 Chroma 19301 繞線元件脈沖測(cè)試器
名稱：其他儀器與工具
品牌：
型號(hào)：
簡介：艾克賽普 Chroma 19301 繞線元件脈沖測(cè)試器是艾克賽普公司全權(quán)代理臺(tái)灣Chroma公司的產(chǎn)品。以下是長沙艾克塞普儀器設(shè)備有限公司為您介紹艾克賽普 Chroma 19301 繞線元件脈沖測(cè)試器的產(chǎn)品特性和功能應(yīng)用，如有疑問或者需要相...
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- 產(chǎn)品介紹
艾克賽普 Chroma 19301 繞線元件脈沖測(cè)試器為繞線元件脈沖測(cè)試器，結(jié)合了 高低感量測(cè)技術(shù)應(yīng)用，擁有1000Vdc脈沖電壓與 200MHz高速取樣率，可提供0.1uH~100uH 大范圍 感量產(chǎn)品測(cè)試滿足絕大部份功率電感測(cè)試需求， 擁有波形面積比較、波形面積差比較、波形顫動(dòng) 偵測(cè)(FLUTTER)及波形二階微分偵測(cè)(LAPLACIAN) 等判定方法，可有效檢測(cè)線圈自體絕緣不良。
繞線元件于生產(chǎn)檢測(cè)包含電氣特性、電氣安規(guī) 耐壓進(jìn)行測(cè)試，而線圈之自體絕緣不良通常是 造成線圈于使用環(huán)境中發(fā)生層間短路、出腳短路 之根源。其形成原因可能源于初始設(shè)計(jì)不良、 molding加工制程不良，或絕緣材料之劣化等所 引起，故加入線圈層間短路測(cè)試有其必要性。
艾克賽普 Chroma 19301 繞線元件脈沖測(cè)試器為針對(duì)繞線元件測(cè)試需求所設(shè)計(jì)， 利用一高壓充電之微小電容(測(cè)試能量低)與待測(cè) 線圈形成RLC并聯(lián)諧振，由振蕩之衰減波形，透 過高速且精密的取樣處理分析技術(shù)，可檢驗(yàn)出線 圈自體之絕緣不良，提供功率電感元件進(jìn)行繞線 品質(zhì)及磁芯之耐壓測(cè)試，讓元件生產(chǎn)廠商及使用 者能更有效的為產(chǎn)品品質(zhì)把關(guān)。
艾克賽普 Chroma 19301 繞線元件脈沖測(cè)試器應(yīng)用于低感量繞線元件測(cè)試，最小 感量可達(dá)0.1uH，針對(duì)低感量測(cè)試特性提供四線 式測(cè)量、接觸檢查功能、電感檢查與電壓補(bǔ)償功 能，可避免因待測(cè)物感量變化大或配線等效電感 而造成測(cè)試電壓誤差大，為低感量繞線元件脈沖 測(cè)試最佳利器。
艾克賽普 Chroma 19301 繞線元件脈沖測(cè)試器于自動(dòng)化生產(chǎn)上應(yīng)用，擁有超高速 測(cè)量速度有效縮短測(cè)試時(shí)間提升生產(chǎn)效率，且電 壓補(bǔ)償功能改善了自動(dòng)化機(jī)臺(tái)配線等效電感之影 響。
全新的人機(jī)操作介面，整合圖形化彩色顯示并提 供畫面擷取功能，透過前面板USB儲(chǔ)存波形，不 僅適用于生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)，更可應(yīng)用于研發(fā)、品保單位 使用進(jìn)行樣品分析比對(duì)，大幅提升操作便利性。
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