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布魯克Bruker JV-QC3 半導(dǎo)體計(jì)量儀
名稱：其他儀器與工具
品牌：
型號(hào)：
簡介：布魯克Bruker JV-QC3 半導(dǎo)體計(jì)量儀擁有高分辨率x射線衍射對外延層(HRXRD)系統(tǒng)，布魯克Bruker JV-QC3 半導(dǎo)體計(jì)量儀是最新的具有可行的質(zhì)量控制范圍的高分辨率x射線衍射儀,在20年的時(shí)間里,世界各地的數(shù)百人在使用在化...
- 產(chǎn)品介紹
布魯克Bruker JV-QC3 半導(dǎo)體計(jì)量儀擁有高分辨率x射線衍射對外延層(HRXRD)系統(tǒng)，布魯克Bruker JV-QC3 半導(dǎo)體計(jì)量儀是最新的具有可行的質(zhì)量控制范圍的高分辨率x射線衍射儀,在20年的時(shí)間里,世界各地的數(shù)百人在使用在化合物半導(dǎo)體和硅的研究和生產(chǎn)設(shè)施。布魯克Bruker JV-QC3 半導(dǎo)體計(jì)量儀是一個(gè)高分辨率x射線衍射的工具,是理想的半導(dǎo)體開發(fā)和質(zhì)量控制。布魯克Bruker JV-QC3 半導(dǎo)體計(jì)量儀用于外延層的組成和厚度測量幾乎任何材料。系統(tǒng)使用標(biāo)準(zhǔn)密封管光學(xué),加上各種梁的優(yōu)化調(diào)節(jié)晶體,可以給最高的分辨率和結(jié)合強(qiáng)度為每個(gè)應(yīng)用程序。
布魯克Bruker JV-QC3 半導(dǎo)體計(jì)量儀提供真正的自動(dòng)化操作,直接水平樣本安裝,和完全自動(dòng)化校準(zhǔn)、測量和數(shù)據(jù)分析。數(shù)據(jù)分析可以自動(dòng)執(zhí)行,或離線使用我們的流行拉德軟件。樣品階段有一個(gè)完整的300毫米的旅行,允許大型晶片的測量,或同時(shí)幾個(gè)較小的晶片。一個(gè)可選的機(jī)器人處理程序可以自動(dòng)加載和測量從磁帶。布魯克Bruker JV-QC3 半導(dǎo)體計(jì)量儀是半導(dǎo)體基板的常規(guī)分析的理想工具。
如果您需要布魯克Bruker JV-QC3 半導(dǎo)體計(jì)量儀及布魯克品牌儀器、或者其他品牌儀器，均可聯(lián)絡(luò)我司銷售部門：0731-84284278 84284378。
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