CH-12.7-STSX 數顯薄膜測厚儀
名稱：涂鍍層測厚儀
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簡介：CH-12.7-STSX 數顯薄膜測厚儀是用機械量法測定塑料薄膜和薄片厚度的儀器，但不適用于壓花得薄膜和簿片。CH-12.7-STSX 數顯薄膜測厚儀參照執行國家標準GB/T6672-2001《塑料薄膜和薄片厚度的測定機械測量法》，該國家標...
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- 產品介紹
CH-12.7-STSX 數顯薄膜測厚儀是用機械量法測定塑料薄膜和薄片厚度的儀器，但不適用于壓花得薄膜和簿片。CH-12.7-STSX 數顯薄膜測厚儀參照執行國家標準GB/T6672-2001《塑料薄膜和薄片厚度的測定—機械測量法》，該國家標準修改采用國際標準ISO4593-1993《塑料—簿膜和簿片—用機械掃描法測定厚度》。
CH-12.7-STSX 數顯薄膜測厚儀技術參數
測量范圍：0~12.7mm
分度值：0.001mm
測頭端部的力：上測量面為SR15mm~SR50mm曲率半徑，下測頭為平面時，測頭對試樣施加的力為0.1~0.5N；相當于10.2gf~51gf
