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儀器中文名稱:掃描電鏡 儀器所在城市及單位:北京市 清華大學 儀器型號規格:JSM7401 生產廠商:日本電子公司 國別:日本 購買日期： 使用日期(年): 認證情況:已進行計量認證 主要技術指標: 主要附件及功能: 儀器負責人: 肖先生 E-mail: shawn.xiao@hncswnet 檢
2011-12-28
儀器中文名稱:熱場發射掃描電鏡 儀器所在城市及單位:北京市 清華大學 儀器型號規格: 生產廠商:德國LEO公司 國別:德國 購買日期： 使用日期(年): 認證情況:已進行計量認證 主要技術指標: 分辨率20kv 1nm 1kv 3nm熱場發射燈絲 主要附件及功能: 儀器負責人: 肖
儀器中文名稱:場發射掃描電子顯微鏡 儀器所在城市及單位:北京市 清華大學 儀器型號規格: 生產廠商:日本電子株式會社 國別:日本 購買日期： 使用日期(年): 認證情況:已進行計量認證 主要技術指標: 30萬倍 分辨率1.5埃 主要附件及功能: 儀器負責人: 肖先生 E-m
儀器中文名稱:掃描電鏡 儀器所在城市及單位:北京市 清華大學 儀器型號規格:TESCAN SEM VEGA TS 5136XM 生產廠商:捷克 TESCAN 國別:捷克 購買日期： 使用日期(年): 認證情況:已進行計量認證 主要技術指標: 主要附件及功能: 儀器負責人: 肖先生 E-mail: shawn.
儀器中文名稱:超高分辨掃描電鏡 儀器所在城市及單位:北京市 清華大學 儀器型號規格: 生產廠商:荷蘭FEI公司 國別:荷蘭 購買日期： 使用日期(年): 認證情況:已進行計量認證 主要技術指標: 分辨率10kv,1.5nm/1kv,2.5nm；加速電壓200v-20kv 主要附件及功能: 儀器
儀器中文名稱:場發射掃描電子顯微鏡 儀器所在城市及單位:北京市 清華大學 儀器型號規格:JSM-6301F 生產廠商:日本電子 國別:日本 購買日期： 使用日期(年): 認證情況:已進行計量認證 主要技術指標: 主要附件及功能: 儀器負責人: 肖先生 E-mail: shawn.xiao@hn
儀器中文名稱:掃描電鏡及取向分析系統 儀器所在城市及單位:北京市 北京科技大學 儀器型號規格:LEO-1450 生產廠商:英國、美國、丹麥 國別:英國、美國、丹麥 購買日期： 使用日期(年): 認證情況:已進行計量認證 主要技術指標: 主要附件及功能:微觀晶體取向及結
儀器中文名稱:超高真空掃描電子顯微鏡(SEM)掃描隧道顯微鏡(STM) 儀器所在城市及單位:北京市 北京大學 儀器型號規格: 生產廠商:中國北京科儀+自制+法國RIBER 國別: 購買日期： 使用日期(年): 認證情況:已進行計量認證 主要技術指標: 主要附件及功能:超高真空
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