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儀器中文名稱:場發射掃描電鏡 儀器所在城市及單位:北京市 北京大學 儀器型號規格:XL30SFEG 生產廠商:荷蘭FEI公司 國別:荷蘭 購買日期： 使用日期(年): 認證情況:已進行計量認證 主要技術指標: 主要附件及功能:樣品表面的形貌、成分、熒光特性觀察和研究。 儀
2011-12-28
儀器中文名稱:場發射掃描電鏡 儀器所在城市及單位:北京市 北京大學 儀器型號規格:1910FE 生產廠商:美國AMRAY公司 國別:美國 購買日期： 使用日期(年): 認證情況:已進行計量認證 主要技術指標: 主要附件及功能:適用于納米材料精細形貌的觀察，可獲得高質量高
儀器中文名稱:環境掃描電子顯微鏡 儀器所在城市及單位:北京市 北京大學 儀器型號規格:Quanta 200FEG 生產廠商:荷蘭FEI公司 國別:荷蘭 購買日期： 使用日期(年): 認證情況:已進行計量認證 主要技術指標: 主要附件及功能:可對生物含水樣品、地質、材料等不導電
儀器中文名稱:冷場發射掃描電鏡 儀器所在城市及單位:北京市 北京大學 儀器型號規格:S-4800 生產廠商:日本日立公司 國別:日本 購買日期： 使用日期(年): 認證情況:已進行計量認證 主要技術指標: 主要附件及功能:本儀器對系統真空度要求高，適合測試導電樣品，
儀器中文名稱:原子力顯微鏡 儀器所在城市及單位:湖南省 長沙市 中南大學 儀器型號規格:PicoPlws 生產廠商:美國Molecular Imaging公司 國別:美國 購買日期： 使用日期(年):2005-04-01 認證情況: 主要技術指標: 主要附件及功能:科研教學、對外測試服務 儀器負
儀器中文名稱:倒置熒光顯微鏡及ICCD系統 儀器所在城市及單位:湖南省 長沙市 湖南大學 儀器型號規格:TE300+Pentamax512EFT 生產廠商:尼康公司 國別: 購買日期： 使用日期(年):2002-10-01 認證情況: 主要技術指標: 主要附件及功能:科研教學、對外測試服務 儀器
儀器中文名稱:多功能研究顯微鏡 儀器所在城市及單位:湖南省 長沙市 湖南中醫藥大學 儀器型號規格:AXIOSKOP I PLUS 生產廠商:蔡司遠東公司 國別: 購買日期： 使用日期(年):2003-05-01 認證情況: 主要技術指標: 主要附件及功能:科研教學、對外測試服務 儀器負
2011-12-27
儀器中文名稱:熒光顯微鏡 儀器所在城市及單位:湖北省 武漢市 武漢大學 儀器型號規格:TCS-SP 生產廠商:徠卡 國別: 購買日期： 使用日期(年):1998-01-01 認證情況: 主要技術指標: 主要附件及功能:研究用 儀器負責人: 肖先生 E-mail: shawn.xiao@hncswnet 檢測
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