美國NI LCR 儀表 LCR 儀表 PXle-4190
名稱：LCR測試儀
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簡介：LCR 儀表PXle-4190 可測量并測試電子設備的電感、電容和電阻(LCR)。它包括一個具有 fF 級電容測量的 LCR 表和一個具有 fA 級電流測量的精密源測量單元(SMU)。您可以在電容-電壓/電流-電壓(CV/IV)自動測試系統(tǒng)...
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- 產(chǎn)品介紹
LCR 儀表
PXle-4190 可測量并測試電子設備的電感、電容和電阻(LCR)。它包括一個具有 fF 級電容測量的 LCR 表和一個具有 fA 級電流測量的精密源測量單元(SMU)。您可以在電容-電壓/電流-電壓(CV/IV)自動測試系統(tǒng)中使用 PXle-4190儀表，其可用于半導體應用，包括集成無源設備(IPD)、微電子機械系統(tǒng)(MEMS)、多層陶瓷電容器(MLCC)和參數(shù)測試。此外，PXle-4190還受到NI-DCPower儀器驅(qū)動程序的支持，其中包括用于 LabVIEW、C、C#.NET、Python和其他編程語言的 API。
