布魯克Bruker ContourGT-X 三維光學顯微鏡
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簡介：布魯克Bruker ContourGT-X 三維光學顯微鏡為實驗室研究和生產(chǎn)工藝控制提供最佳性能的非接觸式表面計量方案。X3和X8型號集十代白光干涉技術(shù)設(shè)計之大成，成為市場上三維光學輪廓儀在測量速度、分辨率、重復(fù)性、準確性等性能上最優(yōu)和大批...
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布魯克Bruker ContourGT-X 三維光學顯微鏡為實驗室研究和生產(chǎn)工藝控制提供最佳性能的非接觸式表面計量方案。X3和X8型號集十代白光干涉技術(shù)設(shè)計之大成，成為市場上三維光學輪廓儀在測量速度、分辨率、重復(fù)性、準確性等性能上最優(yōu)和大批量生產(chǎn)中效率最佳的選擇。布魯克Bruker ContourGT-X 三維光學顯微鏡的獨特優(yōu)勢包括以下幾點：可快速方便定位的電動X、Y、Z平臺和電動測量頭部傾斜裝置；集成式防震臺與特殊設(shè)計的基座提供優(yōu)異的抗震性能；業(yè)界率先推出基于64位的Vision64軟件使用戶更方便地分析各種應(yīng)用數(shù)據(jù)，廣泛應(yīng)用于眼科材料，醫(yī)療器械，精密機械加工零件，太陽能電池，高亮度LED和半導(dǎo)體器件等的各種材料的表面測量。
此外，布魯克Bruker ContourGT-X 三維光學顯微鏡獨特的雙LED光源設(shè)計（專利）配合0.5x到230x的放大倍數(shù)保證了優(yōu)異的測試質(zhì)量。布魯克Bruker ContourGT-X 三維光學顯微鏡激光自動校準（專利）保證了測量的準確性，重復(fù)性以及多臺機機器同時使用時的一致性。Vision64的64位軟件架構(gòu)與多核處理器結(jié)合將測量復(fù)雜表面的測量分析速度提高了10倍。通過數(shù)千張單幅掃描的數(shù)據(jù)的一次拼接可實現(xiàn)連續(xù)大面積高分辨的圖片。AcuityXR功能打破了光學分辨極限，可分辨出小于130nm的特征尺寸。Vision64軟件的圖形化界面進一步提升了用戶的易用性，同時也為獲得的更加廣泛的數(shù)據(jù)提供了更有效地分析功能。
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